Daniel Franta: шукати на сайті Z-Library

David Nečas, Daniel Franta, Vilma Buršíková, Ivan Ohlídal

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 112 KB

english, 2005

Ellipsometric characterisation of thin films non-uniform in thickness

Журнал:

Daniel Franta, David Nečas, Lenka Zajíčková, Vilma Buršíková, Christoph Cobet

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 401 KB

english, 2011

Combination of synchrotron ellipsometry and table-top optical measurements for determination of band structure of DLC films

Журнал:

Ivan Ohlídal, Miloslav Ohlídal, David Nečas, Daniel Franta, Vilma Buršíková

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 612 KB

english, 2011

Optical characterisation of SiOxCyHz thin films non-uniform in thickness using spectroscopic ellipsometry, spectroscopic reflectometry and spectroscopic imaging reflectometry

Журнал:

Daniel Franta, David Nečas, Ivan Ohlídal

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 418 KB

english, 2011

Anisotropy-enhanced depolarization on transparent film/substrate system

Журнал:

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 595 KB

english, 2011

Dielectric response and structure of amorphous hydrogenated carbon films with nitrogen admixture

Lenka Zajíčková, Daniel Franta, David Nečas, Vilma Buršíková, Mihai Muresan, Vratislav Peřina, Christoph Cobet

Журнал:

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.61 MB

english, 2011

Optical characterization of HfO2 thin films

Daniel Franta, Ivan Ohlídal, David Nečas, František Vižd'a, Ondřej Caha, Martin Hasoň, Pavel Pokorný

Журнал:

Daniel Franta, Ivan Ohlı́dal, Vilma Buršı́ková, Lenka Zajı́čková

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 877 KB

english, 2011

Optical properties of diamond-like carbon films containing SiOx studied by the combined method of spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry

Журнал:

Franta, Daniel, Nečas, David, Zajíčková, Lenka, Ohlídal, Ivan, Stuchlík, Jiří, Chvostová, Dagmar

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 142 KB

english, 2004

Application of sum rule to the dispersion model of hydrogenated amorphous silicon

Журнал:

Franta, Daniel, Nečas, David, Zajíčková, Lenka

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 457 KB

english, 2013

Application of Thomas–Reiche–Kuhn sum rule to construction of advanced dispersion models

Журнал:

Franta, Daniel, Nečas, David, Zajíčková, Lenka, Ohlídal, Ivan, Stuchlík, Jiří

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 440 KB

english, 2013

Advanced modeling for optical characterization of amorphous hydrogenated silicon films

Журнал:

Franta, Daniel, Buršíková, Vilma, Nečas, David, Zajíčková, Lenka

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 462 KB

english, 2013

Modeling of optical constants of diamond-like carbon

Журнал:

Ohlídal, Ivan, Nečas, David, Buršíková, Vilma, Franta, Daniel, Ohlídal, Miloslav

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 255 KB

english, 2008

Optical characterization of diamond-like carbon thin films non-uniform in thickness using spectroscopic reflectometry

Журнал:

Franta, Daniel, Nečas, David, Zajíčková, Lenka, Buršíková, Vilma, Cobet, Christoph

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 235 KB

english, 2008

Band structure of diamond-like carbon films assessed from optical measurements in wide spectral range

Журнал:

Franta, Daniel, Zajíčková, Lenka, Karásková, Monika, Jašek, Ondřej, Nečas, David, Klapetek, Petr, Valtr, Miroslav

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.04 MB

english, 2010

Optical characterization of ultrananocrystalline diamond films

Журнал:

Ohlídal, Ivan, Nečas, David, Franta, Daniel, Buršíková, Vilma

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 354 KB

english, 2008

Characterization of non-uniform diamond-like carbon films by spectroscopic ellipsometry

Журнал:

Franta, Daniel, Buršíková, Vilma, Ohlídal, Ivan, Sťahel, Pavel, Ohlídal, Miloslav, Nečas, David

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 346 KB

english, 2009

Correlation of thermal stability of the mechanical and optical properties of diamond-like carbon films

Журнал:

Ohlídal, Ivan, Franta, Daniel, Nečas, David

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 284 KB

english, 2007

Improved combination of scalar diffraction theory and Rayleigh–Rice theory and its application to spectroscopic ellipsometry of randomly rough surfaces

Журнал:

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 480 KB

english, 2014

Assessment of non-uniform thin films using spectroscopic ellipsometry and imaging spectroscopic reflectometry

Nečas, David, Ohlídal, Ivan, Franta, Daniel, Čudek, Vladimír, Ohlídal, Miloslav, Vodák, Jiří, Sládková, Lucia, Zajíčková, Lenka, Eliáš, Marek, Vižďa, František

Журнал:

Franta, Daniel, Nečas, David, Zajíčková, Lenka, Ohlídal, Ivan

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 811 KB

english, 2014

Utilization of the sum rule for construction of advanced dispersion model of crystalline silicon containing interstitial oxygen

Журнал:

Franta, Daniel, Nečas, David, Zajíčková, Lenka, Ohlídal, Ivan

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 584 KB

english, 2014

Broadening of dielectric response and sum rule conservation

Журнал:

Franta, Daniel, Ohlı́dal, Ivan, Buršı̂ková, Vilma, Zajı́čková, Lenka

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 574 KB

english, 2014

Erratum to “Optical properties of diamond-like carbon films containing SiOx”

Журнал:

Franta, Daniel, Buršíková, Vilma, Ohlídal, Ivan, Zajíčková, Lenka, St′ahel, Pavel

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 58 KB

english, 2004

Thermal stability of the optical properties of plasma deposited diamond-like carbon thin films

Журнал:

Franta, Daniel, Ohlı́dal, Ivan, Buršı́ková, Vilma, Zajı́čková, Lenka

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 212 KB

english, 2005

Optical properties of diamond-like carbon films containing SiOx

Журнал:

Franta, Daniel, Nečas, David, Zajíčková, Lenka, Buršíková, Vilma

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 168 KB

english, 2003

Limitations and possible improvements of DLC dielectric response model based on parameterization of density of states

Журнал:

Ohlídal, Ivan, Ohlídal, Miloslav, Franta, Daniel, Čudek, Vladimír, Buršíková, Vilma, Klapetek, Petr, Páleníková, Kateřina

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 557 KB

english, 2009

Influence of technological conditions on mechanical stresses inside diamond-like carbon films

Журнал:

Franta, Daniel, Čermák, Martin, Vohánka, Jiří, Ohlídal, Ivan

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 99 KB

english, 2005

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Optical Systems Design - Jena, Germany (Monday 7 September 2015)] Optical Systems Design 2015: Optical Fabrication, Testing, and Metrology V - Possibilities and limitations of imaging spectroscopic reflectometry in optical characterization of thin films

Duparré, Angela, Geyl, Roland, Ohlídal, Miloslav, Ohlidal, Ivan, Nečas, David, Vodák, Jiří, Franta, Daniel, Nádaský, Pavel, Vižd'a, František

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 734 KB

english, 2015

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Photonics Europe - Brussels, Belgium (Sunday 3 April 2016)] Optical Micro- and Nanometrology VI - Optical characterization of SiO 2 thin films using universal dispersion model over wide spectral range

Gorecki, Christophe, Asundi, Anand K., Osten, Wolfgang, Franta, Daniel, Nečas, David, Ohlídal, Ivan, Giglia, Angelo

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.82 MB

english, 2016

Dispersion models describing interband electronic transitions combining Tauc's law and Lorentz model

Журнал:

Ohlídal, Ivan, Vohánka, Jiří, Mistrík, Jan, Čermák, Martin, Franta, Daniel

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.75 MB

english, 2017

Different theoretical approaches at optical characterization of randomly rough silicon surfaces covered with native oxide layers

Журнал:

Surface and Interface Analysis

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 334 KB

english, 2018

Evaluation of the Dawson function and its antiderivative needed for the Gaussian broadening of piecewise polynomial functions

Vohánka, Jiří, Nečas, David, Franta, Daniel

Журнал:

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 723 KB

english, 2019

Evaluation of the Dawson function and its antiderivative needed for the Gaussian broadening of piecewise polynomial functions

Vohánka, Jiří, Nečas, David, Franta, Daniel

Журнал:

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures

Рік:

2019

Файл:

PDF, 723 KB

2019

Determining shape of thickness non-uniformity using variable-angle spectroscopic ellipsometry

VohÃ¡nka, JiÅÃ, Å ustek, Å tÄpÃ¡n, BurÅ¡ÃkovÃ¡, Vilma, Å klÃbovÃ¡, Veronika, Å ulc, VÃ¡clav, Homola, VojtÄch, Franta, Daniel, ÄermÃ¡k, Martin, OhlÃdal, Miloslav, OhlÃdal, Ivan

Журнал:

Danielle Decker, Jean-Pierre Roth, Emile Franta

Рік:

2020

Файл:

PDF, 2.91 MB

2020

Réactions de transformation des extrémités actives de polystyrène «vivant», en présence d'additifs polaires

Журнал:

Macromolecular Chemistry and Physics

Рік:

1972

Файл:

PDF, 296 KB

1972

SynthèSe de copolymères triséquencés polybutyramide-polystyrène et polybutyramide-polyisoprène

Michel Schmitt, Emile Franta, Paul Rempp, Daniel Froelich

Журнал:

Macromolecular Chemistry and Physics

Рік:

1981

Файл:

PDF, 477 KB

1981

Comparison of effective medium approximation and Rayleigh–Rice theory concerning ellipsometric characterization of rough surfaces

Daniel Franta, Ivan Ohlídal

Журнал:

Optics Communications

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 236 KB

english, 2005

Optical properties of NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique

Daniel Franta, Beatrice Negulescu, Luc Thomas, Pierre Richard Dahoo, Marcel Guyot, Ivan Ohlídal, Jan Mistrík, Tomuo Yamaguchi

Журнал:

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 186 KB

english, 2005

Optical characterization of sol–gel deposited PZT thin films by spectroscopic ellipsometry and reflectometry in near-UV and visible regions

Daniel Franta, Ivan Ohlídal, Jan Mistrík, Tomuo Yamaguchi, Gu Jin Hu, Ning Dai

Журнал:

Surface and Coatings Technology

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 134 KB

english, 2005

Hemoglobin Digestion in Blood-Feeding Ticks: Mapping a Multipeptidase Pathway by Functional Proteomics

Martin Horn, Martina Nussbaumerová, Miloslav Šanda, Zuzana Kovářová, Jindřich Srba, Zdeněk Franta, Daniel Sojka, Matthew Bogyo, Conor R. Caffrey, Petr Kopáček, Michael Mareš

Журнал:

Chemistry & Biology

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.07 MB

english, 2009

Optical and mechanical characterization of ultrananocrystalline diamond films prepared in dual frequency discharges

Monika Karásková, Lenka Zajíčková, Vilma Buršíková, Daniel Franta, David Nečas, Olga Bláhová, Jiří Šperka

Журнал:

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.05 MB

english, 2010

Optical properties of ZnTe films prepared by molecular beam epitaxy

Daniel Franta, Ivan Ohlı́dal, Petr Klapetek, Alberto Montaigne-Ramil, Alberta Bonanni, David Stifter, Helmut Sitter

Журнал:

Daniel Franta, Ivan Ohlídal, David Petrýdes

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 760 KB

english, 2004

Optical characterization of thin films by the combined method of spectroscopic ellipsometry and spectroscopic photometry

Журнал:

Vacuum

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 253 KB

english, 2005

Statistical properties of the near-field speckle patterns of thin films with slightly rough boundaries

Daniel Franta, Ivan Ohlı́dal

Журнал:

Optics Communications

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 268 KB

english, 1998

Comparative Study of Films Deposited from HMDSO/O2 in Continuous Wave and Pulsed rf Discharges

Lenka Zajíčková, Vilma Buršíková, Daniel Franta, Angelique Bousquet, Agnes Granier, Antoine Goullet, Jiří Buršík

Журнал:

Plasma Processes and Polymers

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 285 KB

english, 2007

Optical characterization of phase changing Ge2Sb2Te5 chalcogenide films

Daniel Franta, Martin Hrdlicka, David Necas, Miloslav Frumar, Ivan Ohlídal, Martin Pavli šta

Журнал:

Ivan Ohlídal, David Necas, Daniel Franta

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 326 KB

english, 2008

Spectroscopic ellipsometry and reflectometry of statistically rough surfaces exhibiting wide intervals of spatial frequencies

Журнал:

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 260 KB

english, 2008

Optical characterization of non-stoichiometric silicon nitride films

David Necas, Vratislav Perina, Daniel Franta, Ivan Ohlídal, Josef Zemek

Журнал:

Daniel Franta, Ivan Ohlídal, David Necas

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 193 KB

english, 2008

Optical quantities of rough films calculated by Rayleigh-Rice theory

Журнал:

Daniel Franta, David Necas, Miloslav Frumar

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 246 KB

english, 2008

Modeling of dielectric response of GexSbyTez (GST) materials

Журнал: